イベント＆プレスリリース
国際粉体工業展東京2010 出展製品詳細
| 開催日時 | 2010年12月1日（水）-3日（金） 10:00～17:00 |
| 会 場 | 東京ビッグサイト 東ホール 東京都江東区有明3-11-1 製品展示ブース： Q-09 |
| 展示製品 | X線透過式沈降式粒度分布測定装置 SediGraph 高精度粒度分布測定装置 ElzoneⅡ5390 フロー式画像解析粒子径・形状測定装置 Particle Insight レーザー回折散乱式粒度分布測定装置 Saturn DigiSizer Ⅱ かさ密度測定装置 GeoPyc 1360 |
2010分析展報告
| 開催日時 | 2010年9月1日（水）-3日（金） 10:00～17:00 |
| 会 場 | 千葉 幕張メッセ 国際展示場  製品展示ブース： UI-10 （ホール7） |
| 展示製品 | 全自動化学吸着分析装置 AutoChemⅡ2920 フロー式画像解析粒子径・形状測定装置 Particle Insight 高精度粒度分布測定装置 ElzoneⅡ5390 高圧ガス吸着装置 HPVA-100 |
9月1日～3日間に、幕張メッセにて分析展が開催されました。
連日の残暑にもかかわらず多くのお客様が展示会に来場され、マイクロメリティックスジャパンブースにもたくさんのお客様にお越しいただきました。誠に有難うございました。
今回当社は、粒子物性分野において品質管理と研究開発に必要とする全ての測定装置を提供しております。今回始めて分析展を通じて、日本のお客様にお目にかかり、下記のソリューションをご提案いたしました。
- 触媒物性を評価に欠かせない昇温脱離(TPD) 、昇温還元(TPR) 、昇温酸化(TPO)
- 粒子画像を撮影し、粒子径のみならず粒子形状を測定
- 水素および天然ガスの貯蔵設備を評価する高圧ガス吸着測定システム
- カーボンナノチューブの吸着物性測定
- 粒子の形状を受けない三次元測定法の電気的検知帯方法
